Berek Compensators（貝瑞克補償器）是由Joseph Berek于20世紀(jì)初發(fā)明，主要應(yīng)用于對相位延遲的精細(xì)調(diào)節(jié)與精準(zhǔn)測量，是偏光顯微鏡的重要附件之一。

Murzider邁時迪偏光顯微MSD-P690-T鏡通過改造，增加Berek Compensators（貝瑞克補償器），可對相位延遲的精細(xì)調(diào)節(jié)與精準(zhǔn)測量，在物探與晶體材料研究與分析領(lǐng)域得到了越來越廣泛應(yīng)用。

Berek補償器是基于光的偏振現(xiàn)象。當(dāng)線偏振光穿越單軸晶體時，會分化為兩個不同偏振方向的光束，而這兩束光之間的相位差異，則可通過調(diào)整晶體的厚度來調(diào)節(jié)。Berek補償器則利用了這一光學(xué)原理，通過旋轉(zhuǎn)內(nèi)部的單軸晶體角度，以改變其厚度，從而實現(xiàn)對通過光線的相位差的有效調(diào)節(jié)。

Berek補償器主要可分為固定型與可調(diào)型兩類。固定型補償器之相位差恒定不變，適用于需要固定相位差的應(yīng)用場景；而可調(diào)型補償器則可通過旋轉(zhuǎn)內(nèi)部晶體，實現(xiàn)對相位差的精細(xì)調(diào)節(jié)，精準(zhǔn)測量樣品的相位延遲量。